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Um den Einfluss des Wire-Bondens am tpt Gold-Bonder auf Gate-Durchbrüche zu untersuchen, wurden Chips mit Bondpads aus Gold/Chrom versehen. Hierfür wurden Chips aus Si/SiO~2~ verwendet. Diese wurden gereinigt, belackt und mittels Elektronenstrahllithografie "beschrieben". Anschließend wurden Bondpads aus Chrom/Gold aufgedampft. Die einzelnen Schritte werden im Folgenden genauer erläutert.
Die Proben wurden zunächst wie folgt chemisch gereinigt:
Um organische Verunreinigungen zu entfernen, wurden die Proben im Anschluss zusätzlich für fünf Minuten bei 57% Leistung im (alten) Plasmaverascher gereinigt.
Für die Lithographie wurde der positive e-Resist Lack CSAR der Firma Allresist verwendet. Um beim Spin-Coating eine möglichst gleichmäßige Schichtdicke zu erreichen wurden unterschiedliche Kombinationen der relevanten Parameter varriiert. Dies resultierte in den Parameterwerten aus Tabelle \@ref(tab:prep-spin), welche zuverlässig zu guten Ergebnissen führten.
knitr::kable( tribble( ~"Schritt", ~"RPM", ~"Ramp", ~"Dauer", ~"Tropfen", "1", "-/-", "-/-", "-/-", "1-2", "2", "4000", "800", "5", "-/-", "3", "4000", "-/-", "20", "1-2", "4", "6000", "800", "30", "-/-" ), caption = "CSAR Spin-Coating Parameter." )
Nach dem Belacken kamen die Proben bei 150 deg C für 60s auf eine Heizplatte (Soft Bake).
Um eine gute Dosis für CSAR zu finden, wurde ein Dose-Test von 40 bis 150 $\mu$C/cm^2^ durchgeführt. Dabei zeigte sich, dass ab einer Dosis von ca. 50 $\mu$C/cm^2^ kein Unterschied zwischen verschiedenen Dosen mehr zu erkennen ist.
Das Datenblatt empfiehlt 65 $\mu$C/cm^2^. Da die Schichtdicke am Rand der Proben zunimmt, und die Proben meist flächendeckend mit Bondpads versehen wurden, wurde eine Dosis von 80 $\mu$C/cm^2^ verwendet.
Die Chips wurden mit Kleber (?) auf einen Chipträger geklebt. Zum Aushärten des Klebers, wurden sie anschließend für 45 Minuten bei 150 Grad Celsius auf eine Heizplatte gelegt.
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