semicondutores1rep: Planta de fabricação de semicondutores
In fndemarqui/planex: Planejamento e Análise de Experimentos
semicondutores1rep R Documentation
Planta de fabricação de semicondutores
Description
Exercício 14.17: Um experimento foi realizado em uma planta de fabricação de semicondutores, como um esforço para aumentar o rendimento. Cinto fatores, cada um com dois níveis foram estudados. Os fatores (e níveis) foram A = abertura (pequena, grande), B = tempo de exposição (20% abaixo do normal, 20% acima do normal), C = tempo de desenvolvimento (30s e 45s), D = dimensão da máscara (pequena, grande), e E = tempo de ataque químico (14.5 min, 15.5 min). Devido ao número elevado de fatores (5), o experimento foi conduzido com uma única réplica. Analise os dados do experimento e tire as suas conclusões.
Format
Data frame com 32 linhas e duas variáveis:
rendimento: variável resposta
comb_trat: combinação de tratamentos.
Author(s)
Fábio N. Demarqui fndemarqui@est.ufmg.br
References
Montgomery, D. C., Runger, G. C. (2015) Estatística Aplicada e Probabilidade para Engenheiros, 5ª. Edição, Rio de Janeiro: LTC.
fndemarqui/planex documentation built on July 9, 2024, 2:13 a.m.
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Exercício 14.17: Um experimento foi realizado em uma planta de fabricação de semicondutores, como um esforço para aumentar o rendimento. Cinto fatores, cada um com dois níveis foram estudados. Os fatores (e níveis) foram A = abertura (pequena, grande), B = tempo de exposição (20% abaixo do normal, 20% acima do normal), C = tempo de desenvolvimento (30s e 45s), D = dimensão da máscara (pequena, grande), e E = tempo de ataque químico (14.5 min, 15.5 min). Devido ao número elevado de fatores (5), o experimento foi conduzido com uma única réplica. Analise os dados do experimento e tire as suas conclusões.
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rendimento: variável resposta
comb_trat: combinação de tratamentos.
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Fábio N. Demarqui fndemarqui@est.ufmg.br
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Montgomery, D. C., Runger, G. C. (2015) Estatística Aplicada e Probabilidade para Engenheiros, 5ª. Edição, Rio de Janeiro: LTC.
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